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第22回IEEE広島支部学生シンポジウム(HISS)テクニカルプレゼンテーション 査読用論文投稿締切の延長について

第22回IEEE広島支部学生シンポジウム(HISS)は,下記の日程で開催されます。テクニカルプレゼンテーションの査読用論文投稿締切が9月23日(水)に再延長となりました。ぜひ投稿をご検討ください。

開催日: 2020年11月28日(土),11月29日(日)
会場:Online (Zoom)
ウェブサイト:http://hiss22nd.sakura.ne.jp/
[Call for Paper]  日本語版  /  English

[査読用論文投稿締切] 
8月31日(月)→9月14日(月)→ 9月23日(水)に再延長

– Introduction to HISS –
HISSとは学生が主体となって企画・運営を行う「学生の、学生による、社会のための」イベントです。この目的には次のものが挙げられます。

1. 従来の学会の研究会発表をさらに開放的にすることにより、より自由でかつ活発な議論を喚起する
2. 学生が独自の考えを人前で明確に表現する術を身につける

今回のHISSでは「未来に向けた発着想」をテーマとしており、大学や企業で行っている研究を、テクニカルプレゼンテーションを通じて発表し、議論していきたいと考えています。皆様には本シンポジウムへ奮ってご参加くださいますよう、ご案内申し上げます。

– About Technical Presentation –
本シンポジウムでは、学生の発表の場としてテクニカルプレゼンテーションを行います。テクニカルプレゼンテーションとは、一般参加者と発表者との意見交換ができる発表方法です。今年度は,オンライン(Zoom)でのポスター形式で発表を行っていただきます。

発表対象者は電気・電子・通信・情報関連分野を主に研究する大学院生・大学生・高専生・短大生・専門学校生であり、IEEE会員でない方も発表を行うことが出来るようになっています(IEEE学生会員の方に対しては論文投稿料を割引しています)。また、第17回HISSより英語での発表を行うInternational Session(英語セッション)を設けております。

過去の実施状況はこちらから。

IEEE広島支部主催講演会(2020年9月12日)

IEEE広島支部では、下記の主催講演会をオンラインで開催いたします。
ご興味がございます方は是非ともご出席くださいますようお願い申し上げます。

日時:2020年9月12日(土) 13:00〜14:00 (オンライン)
主催:IEEE広島支部


題目:深層学習を用いた写真の審美的品質推定と構図との関係性に関する考察
講師:滝本 裕則氏(岡山県立大学 情報工学部 情報通信工学科)
概要:
 写真の審美的品質評価とは、人が感覚的に写真を好むかどうかを定量化したものである。本講演では、視覚的顕著性に基づく高次の知覚情報を考慮したCNNによる写真の審美的品質推定法を紹介する。また、判別根拠の可視化技術を用いて、審美的品質推定と構図の関係性について考察する。

参加費:無料
事前の参加申込:不要

参加申込:

以下のメールアドレス宛に名前,所属,住所をお知らせください.オンライン会議による参加方法については個別にお知らせいたします


本件の問合せ先:
庶務幹事 高野 知佐
E-mail: takanoi&hiroshima-cu.ac.jp (送信時に&を@に換えてください)