（更新年月日：2008年6月6日）
IEEE-RS Chapter Annual Meeting & 2007年度 Capter Awards受賞記念講演会
日時 平成20年7月26日(土) 14:00-16:30 会場：日本工業大学 神田キャンパス 501号室 http://www.nit.ac.jp/senmon/contents/08access/access.html#01 参加費 無料 資料準備の都合上，ご出席いただけます方は7月18日までに secretary (防衛大学校 弓削哲史, yuge＠nda.ac.jp, FAX:046-844-5903)まで ご連絡下さいますようお願い申し上げます. プログラム 授賞式 14:00 Chair挨拶および2007 Chapter Awards 授賞式 記念講演会 14:10 オープンソースソフトウェアに対する信頼性評価のための確率微分方程式モデルとその応用 田村慶信(広島工業大学)(2007年度学術奨励賞) 14:50 ＬＳＩの微細Ｃｕ配線におけるエレクトロマイグレーション信頼性 横川慎二(ＮＥＣエレクトロニクス)(2007年度論文賞) 15:30 信頼性のフロンティア −−サービスから環境まで−− 益田昭彦(帝京科学大学)(2007年度信頼性技術功績賞) 16:10 閉会挨拶
IEEE Japan-Korea Reliability Workshop
日時：2007年11月17日(土) 13:30〜17:00 会場：日本工業大学 神田キャンパス 502号室 http://www.nit.ac.jp/senmon/contents/08access/access.html#01 主催:IEEE R Japan Chapter 参加費:無料 ※IEEE会員以外の方もご参加いただけます。 Date: November 17, 2007 (13:30 to 17:00) Venue: Room 502, Kanda Campus, Nippon Institute of Technology http://www.nit.ac.jp/senmon/contents/08access/access.html#01 (2 minutes walk from Jimbo-cho Sta. of Tokyo metro, Hanzomon line) Official Language: English Host:IEEE R Japan Chapter Registration Fee: Free(We welcome non IEEE member.) Schedule:
1330-1335 Opening 1335-1415 "Evolutionary Design of N-version Program" Prof. Yasuhiro Tsujimura
(Nippon Institute of Technology)1415-1455 "On a Random Failure Rate Model" Prof. Ji Hwan Cha
(Pukyong National University)1455-1510 Break 1510-1550 "Reliability evaluation method of systems with permissible repair time and imperfect switchover" Prof. Hitoshi Watanabe
(Tokyo University of Science)1550-1630 Optimization issues in multi-unit systems" Prof. Won Young Yun
(Pusan National University)1630- Closure
IEEE-RS Chapter Annual Meeting & 2006年度 Capter Awards受賞記念講演会
日時 平成19年7月28日(土) 13:00-16:30 場所 電気通信大学 西5号館 314号室 http://www.uec.ac.jp/acc/map.html#campus (〒182-8585 東京都調布市調布ヶ丘1-5-1) 参加費 無料 資料準備の都合上，ご出席いただけます方は7月20日までに secretary (防衛大学校 弓削哲史, yuge＠nda.ac.jp, FAX:046-844-5903)まで ご連絡下さいますようお願い申し上げます. プログラム 授賞式 13:00 Chair挨拶および2006 Chapter Awards 授賞式 (柳 繁、鈴木和幸) 記念講演会 13:10 日中信頼性技術交流（挨拶） 額田啓三，(2006年度信頼性技術功績賞) 13:25 LSI故障解析技術 二川清（ＮＥＣエレクトロニクス），(2006年度信頼性技術功績賞) 14:05 ドライバ適応的衝突警報の提示タイミングと信頼 安部原也（日本自動車研究所）,(2006年度学術奨励賞) 14:45 休憩 15:00 離散ワイブル型故障発生時間分布に基づいたソフトウェア信頼性モデル 井上真二（鳥取大学）,(2006年度学術奨励賞) 15:40 Optimality of Monotone Procedure in Preventive Maintenance Lu JIN（電気通信大学）,(2006年度論文賞) 16:20 総合討論(chapter活動方針についての議論を含む)
行事名：リスク工学研究会
目的：自動車の運転支援システムの最近の開発動向について、レーンキ ープサポートならびにプリクラッシュセーフティを例にご紹介いただき、 信頼性や安全性をさらに向上させるための今後の課題などについて聴衆 と議論する。
参加費： 無料
主催団体：筑波大学システム情報工学研究科リスク工学専攻
共催団体：IEEE Reliability Society Japan Chapter
開催日時：平成18年11月1日（水） 14:00-17:00
開催場所： 筑波大学東京キャンパス（秋葉原ダイビル）第3教室
http://www.tsukuba.ac.jp/navi/img/tokyo-campus_b.gif
講演会の構成
14:00-14:10 開会の挨拶
14:10-15:10 本田技研様 レーンキープサポートの紹介（仮）
15:10-15:30 休憩
15:30-16:30 日野自動車様 大型トラックのプリクラッシュセーフティ
16:30-17:00 全体ディスカッション
中條武志
中央大学 教授
題目：医療におけるエラープルーフ化−系統的にエラープルーフ化を進めるための３ フェーズと支援ツール−
要旨：
医療において、人的エラーは質・安全・能率に大きな影響を与える。これらを防止するために多くのエラープルーフ化の対策が行われ、成功を収めているが、そ のほとんどは既存のノウハウをうまく活用することなく、個別に考案されている。本発表では、医療においてエラープルーフ化を系統的に進めるための一つの方 法を提案する。この方法は、(1) 改善の機会を発見する、(2) 対策案を生成する、(3) 対策案を評価・選定する、という３つのフェーズから構成される。第１フェーズでは、ＨＦＭＥＡを基本とし、その実施を容易にするツールとして一般化サブプ ロセス、一般化失敗モードを用いる。第２フェーズでは、多くのエラープルーフ化の事例の背後に共通する発想法を抽出して、チェックリスト化・データベース 化することで対策案の生成を促進する。第３フェーズでは、生成された対策案をSolution Priority Numberを用いて重要度付けする。提案する方法を実際のプロジェクトに適用した例についても報告する。
田中健次
電通大 教授
題目：人間に依存する冗長化の落とし穴−効果的な冗長化はいかに実現できるか
要旨：高信頼性・安全性を確保する上で、冗長並列化は有効な設計手法である。しかし、人間に一部を頼る現実の冗長系では、並列モデルでの信頼度計算のような効果は期待できない。様々な落とし穴がそこにあるからである。
前半では、人間作業による多重防護、例えば、Ｗチェックによる確認作業などでは、作業者間の独立性が成り立たないばかりか、さらにその効果を低下させる他の要因があることを指摘する。後半では、人間操作と自動化の多重化による安全確保の問題点、 フールプルーフ設計への過信がもたらす落とし穴などを考える。