IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter

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Chapter Award Winner 2018

(更新年月日:2019年5月14日)

当Chapter では,IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Awards 制度を創設し,2003年から運用しております.
2018年度Awardの受賞者は次の方々です.

(1) IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 論文賞 該当なし
(2) IEEE Reliability Society Japan Chapter 学術奨励賞 1件

中村 太信 氏(首都大学東京)
対象論文 "The increasing failure rate property of connected-(1,2)-or-(2,1)-out-of-(m,n):F lattice systems - the cases of m = 2, 3, 4 -"
2018 Asia-Pacific International Symposium on Advanced Reliability and Maintenance Modeling (APARM 2018)
受賞理由 部品がm 行n 列の格子状に配置されており,2 個以上の隣接した部品が故障した場合に システム故障となる2次元システムを考え,このシステムに対してIFR保存問題に取り組ん だ.稼働状態数の効率的な算出式を与え、部品のIFR が保存されるシステムは3種類存在 することを解析的に示した.これにより部品が任意の寿命分布を持つ場合における最適保 全方策の提案に寄与する有用な研究である.
(3) IEEE Reliability Society Japan Chapter 信頼性技術功績賞 1件

瀬戸屋 孝 氏(東芝デバイス&ストレージ株式会社)
開発課題名 "LSI信頼性認定ガイドラインの国際標準化に関する功績"
受賞理由 長年にわたり半導体の品質,信頼性業務に従事してきた実績.特に25社を超える関係企業か らの技術者を統括し,LSI 製品や個別半導体製品の信頼性認定に関する効果的な試験方法 のガイドラインを作成し,国際標準化を実現させた功績は多大である.

授賞式の様子

授賞式は2019年6月22日(土)に法政大学市ヶ谷キャンパスにて執り行われました.

(写真はChairの弓削哲史教授(右)と受賞者(左))

【IEEE Reliability Society Japan Chapter 学術奨励賞】
  2018 Winner
  中村 太信 氏(写真左)         
【IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter信頼性技術功績賞】
  2018 Winner
  瀬戸屋 孝 氏(写真左)         


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