IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter

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講演会・講習会

(更新年月日:2019年5月14日)

2019年

IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Annual Meeting & 2018年度 Chapter Awards受賞記念講演会

下記の要領にて,2019 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Annual Meetingおよび2018 Chapter Awards受賞記念講演会を開催いたします.
参加を希望される方は,資料準備の関係上,6月7日(金)までに事務局(法政大学 作村 sakumura(at)hosei.ac.jp)までご連絡下さい.
また,IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Seminar(受賞記念講演会後に開催)のあとに懇親会も
予定しております.ご出席される方は,合わせて6月7日(金)までに事務局(法政大学 作村 sakumura(at)hosei.ac.jp)までご連絡下さい.

日時:2019年6月22日(土) 
会場:法政大学市ヶ谷キャンパス(ボアソナードタワー19階D会議室)
   (住所:東京都千代田区富士見2-17-1)
(http://www.hosei.ac.jp/gaiyo/campus/ichigaya/ichigaya.html), 
(http://violin.k.hosei.ac.jp/190401_ichigaya.jpg)
主催:IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 
参加費:無料

プログラム
13:30-13:35 開会挨拶(Chair:弓削 哲史)

13:35-13:45 授賞式・記念撮影

13:45-14:15 The increasing failure rate property of
         connected-(1,2)-or-(2,1)-out-of-(m,n):F lattice systems
         - the cases of m = 2, 3, 4 -
中村 太信 氏 (首都大学東京)
(2018年度 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 学術奨励賞 受賞者)

14:15-14:45 LSI信頼性認定ガイドラインの国際標準化に関する功績
瀬戸屋 孝 氏(東芝デバイス&ストレージ株式会社)
(2018年度 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 信頼性技術功績賞 受賞者)

14:45-14:50 閉会挨拶(Vice Chair:岡村 寛之)

IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Seminar

下記の要領にて,2019 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Seminar を開催いたします.
参加を希望される方は,資料準備の関係上,6月7日(金)までに事務局(法政大学 作村 sakumura(at)hosei.ac.jp)までご連絡下さい.
また,Seminarの終了後に懇親会も予定しております.ご出席される方は,合わせて6月7日(金)までに事務局(法政大学 作村 sakumura(at)hosei.ac.jp)までご連絡下さい.

日時:2019年6月22日(土) 
会場:法政大学市ヶ谷キャンパス(ボアソナードタワー19階D会議室)
   (住所:東京都千代田区富士見2-17-1)
(http://www.hosei.ac.jp/gaiyo/campus/ichigaya/ichigaya.html), 
(http://violin.k.hosei.ac.jp/190401_ichigaya.jpg)
主催:IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 
参加費:無料

プログラム
15:00-15:05 開会挨拶(Chair:弓削 哲史)

15:05-16:05 
講師:石川 冬樹 氏(国立情報学研究所)
題目:高信頼自動運転に向けて~ソフトウェアテスティング技術の観点から
概要:本講演では,自動運転に代表される自律的なサイバーフィジカルシステムの信頼性に関し,
ソフトウェアテスティング技術の観点から研究動向や我々の取り組みを紹介する.具体的には,
Search-based TestingやFalsification(反例探索)と呼ばれる最適化を用いたテスティ
ング技術について紹介する.また現在大きな課題となっている,機械学習,特に深層学習を用い
て構築した人工知能システムの信頼性に関する動向についても紹介する.

16:15-17:15 
講師:伊藤 誠 氏(筑波大学)
題目:自動車の自動運転に関する安全性について
概要:自動車の自動運転を実現するためには,自動運転のシステムの安全性確保が前提となる.
この講演では,自動運転技術の現状を述べるとともに,安全な自動運転のための課題について
述べる.また,安全性の定量的な評価並びに保証の在り方についても考察してみたい.

17:15-17:20 閉会挨拶(Vice Chair:岡村 寛之)

2018年

IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Annual Meeting & 2017年度 Chapter Awards受賞記念講演会
(終了しました。講演会の様子

下記の要領にて,2018 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Annual Meetingおよび2017 Chapter Awards受賞記念講演会を開催いたします.
参加を希望される方は,資料準備の関係上,6月8日までに ieee.rl07@gmail.com までご連絡下さい.
また,IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Seminar(受賞記念講演会後に開催)のあとに懇親会も
予定しております.ご出席される方は,合わせて6月8日までに ieee.rl07@gmail.com までご連絡下さい.

日時:2018年6月16日(土) 
会場:首都大学東京 秋葉原サテライトキャンパス 1202室ブロックA, B
   (住所:千代田区外神田 1-18-13 秋葉原ダイビル 12 階(1202) )(http://www.comp.tmu.ac.jp/manycore/images/TMU_AKIBA.pdf)
主催:IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 
参加費:無料

プログラム
14:10-14:15 開会挨拶(Chair:福本 聡)

14:15-14:20 授賞式・記念撮影

14:20-14:50 A comprehensive evaluation of software rejuvenation policies
for transaction systems with Markovian arrivals
Junjun Zheng 氏, Hiroyuki Okamura 氏, Lin Li 氏, Tadashi Dohi 氏(広島大学)
(2017年度 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 論文賞 受賞者)

14:50-15:00 閉会挨拶(Vice Chair:弓削哲史)

IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Seminar
(終了しました。講演会の様子

下記の要領にて,2018 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Seminarを開催いたします.
参加を希望される方は,資料準備の関係上,6月8日までに ieee.rl07@gmail.com までご連絡下さい.
また,Seminarの終了後に懇親会も予定しております.ご出席される方は,合わせて6月8日までに
ieee.rl07@gmail.com までご連絡下さい.

日時:2018年6月16日(土) 
会場:首都大学東京 秋葉原サテライトキャンパス 1202室ブロックA, B
   (住所:千代田区外神田 1-18-13 秋葉原ダイビル 12 階(1202) )(http://www.comp.tmu.ac.jp/manycore/images/TMU_AKIBA.pdf)
主催:IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 
参加費:無料

プログラム
15:10-15:15 開会挨拶(Chair:福本 聡)

15:15-16:15 
講師:高田 毅士 氏(東京大学大学院工学系研究科建築学専攻 教授)
題目:構造工学における安全率と信頼性
概要:構造物に要求される多様な性能を実現させるためには、それらの置かれている環境を適切
に把握し、その環境下で構造物がどのように振る舞うかをできるだけ正確に記述し、様々な材料
から成る構造物自身の強さを把握しておくことが必要である。しかしながら、構造物を取り巻く
環境や材料挙動は極めて不確定であり、それ故に、ある程度の余裕を見込んで設計、建設するこ
とになる。この余裕の取り扱い方を取り扱うのが信頼性工学の役割のひとつである。本発表では、
信頼性工学を理解する上で必要となる不確定性の定義と分類について、構造信頼性理論について
その最も重要な部分を解説する。

16:25-17:25 
講師:蓑原 隆 氏(拓殖大学工学部情報工学科 教授)
題目:無線センサーネットワークのセキュリティ
概要:センサーを持つ小型無線端末を多数配置し,自律的にネットワークを構築することで環境
からの情報を収集する無線センサーネットワークが様々な分野で応用されつつある.しかし,
使用する機器の計算能力,メモリ容量,電力などの制約から十分なセキュリティ対策が取られて
いない可能性がある.本講演では,無線センサーネットワークにおいて想定されるセキュリティ
の問題とその対策について述べる.

17:25-17:30 閉会挨拶(Vice Chair:弓削哲史)



2017年

IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Annual Meeting & 2016年度 Chapter Awards受賞記念講演会
(終了しました。講演会の様子

下記の要領にて,2017 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Annual Meetingおよび2016 Chapter Awards受賞記念講演会を開催いたします.
参加を希望される方は,資料準備の関係上,6月13日までに ieee.rl07@gmail.com までご連絡下さい.
また,IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Seminar(受賞記念講演会後に開催)のあとに懇親会も
予定しております.ご出席される方は,合わせて6月13日までに ieee.rl07@gmail.com までご連絡下さい.

日時:2017年6月17日(土) 
会場:首都大学東京 秋葉原サテライトキャンパス 1202室ブロックA, B
   (住所:千代田区外神田 1-18-13 秋葉原ダイビル 12 階(1202) )(http://www.comp.tmu.ac.jp/manycore/images/TMU_AKIBA.pdf)
主催:IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 
参加費:無料

プログラム
13:00-13:05 開会挨拶(Chair:福本 聡)

13:05-13:20 授賞式・記念撮影

13:20-13:50 A Study on the MTTF of Parallel Systems under Dependent
Failure-Occurrence Environment
太田 修平 氏 (法政大学大学院)
(2016年度 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 学術奨励賞 受賞者)

13:50-14:20 Integrating Animation-Based Inspection Into Formal
Design Specification Construction for Reliable Software Systems
Mo Li 氏,Shaoying Liu 氏 (法政大学)
(2016年度 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 論文賞 受賞者)

14:20-14:50 信頼性工学及び TQMの理論・方法社会における実践適用の
理論・方法社会における実践適用における功績
鈴木 和幸 氏 (電気通信大学)
(2016年度 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 信頼性技術功績賞 受賞者)


14:50-15:00 閉会挨拶(Vice Chair:弓削哲史)

IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Seminar
(終了しました。講演会の様子

下記の要領にて,2017 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Seminarを開催いたします.
参加を希望される方は,資料準備の関係上,6月13日までに ieee.rl07@gmail.com までご連絡下さい.
また,Seminarの終了後に懇親会も予定しております.ご出席される方は,合わせて6月13日までに
ieee.rl07@gmail.com までご連絡下さい.

日時:2017年6月17日(土) 
会場:首都大学東京 秋葉原サテライトキャンパス 1202室ブロックA, B
   (住所:千代田区外神田 1-18-13 秋葉原ダイビル 12 階(1202) )(http://www.comp.tmu.ac.jp/manycore/images/TMU_AKIBA.pdf)
主催:IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 
参加費:無料

プログラム
15:10-15:15 開会挨拶(Chair:福本 聡)

15:15-16:15 
講師:亀山 修一 氏(富士通株式会社、テクノロジ&ものづくり事業本部、シニアエキスパートエンジニア)
題目: IoT時代の電子回路の安心安全をめざして 〜バウンダリスキャン技術の最新技術と適用拡大〜
概要:IoT時代を迎え、あらゆるモノに電子回路が搭載されようになり、電子回路はさ
らなる小型化と安心安全が要求される。電子回路の小型化を実現するための電子デバイ
スの超高密度実装を保証するバウンダリスキャン技術を易しく解説する。さらにムーア
の法則の終焉に伴い台頭してきた3D-LSIや部品内蔵基板へのバウンダリスキャン技術応
用や富士通での実践事例を紹介する。

16:25-17:25 
講師:田村 慶信 氏(東京都市大学 知識工学部 経営システム工学科 教授)
題目:オープンソースプロジェクトにおけるフォールトデータ分析と信頼性評価法
概要:近年,サーバ用途やOS,さらにはクラウドサービスなど,様々な分野において,
オープンソースソフトウェアが利活用されている.しかしながら,ソースコードが世界
中に公開されているため,悪意のあるサイト攻撃や情報流出の標的になり易く,品質上
の問題点が指摘されている.本講演では,オープンソースプロジェクトにおけるフォー
ルトデータ分析に基づく信頼性評価に関する研究について紹介する.

17:25-17:30 閉会挨拶(Vice Chair:弓削哲史)



2016年

IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Annual Meeting & 2015年度 Chapter Awards受賞記念講演会
(終了しました。講演会の様子

下記の要領にて,当ChapterのAnnual Meeting ならびに 2015 Chapter Awards受賞記念講演会を開催いたします.
参加を希望される方は,資料準備の関係上,6月13日までに ieee.jc.rs@gmail.com までご連絡下さい.

日時:2016年6月18日(土) 
会場:早稲田大学 早稲田キャンパス 11号館 8階 819教室 (http://www.waseda.jp/top/access/waseda-campus)
 キャンパスマップ 
主催:IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 
参加費:無料

プログラム
12:15-12:20 開会挨拶(Chair:早川有)
12:20-12:35 授賞式・記念撮影
12:35-13:05 Non-Periodic Inspection and Replacement Policy for a 
 Multi-unit One-shot System with Minimal Repair
 北川智大 氏(防衛大学校理工学研究科)
 (2015年度 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 学術奨励賞)
13:05-13:35 信頼性・安全性研究成果の列車制御分野への実践的展開
 中村英夫 氏(日本大学)
(2015年度 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 信頼性技術功
 績賞)
13:35-14:05 Performability Modeling for RAID Storage Systems by 
 Markov Regenerative Process
 町田文雄 氏,Ruofan Xia 氏,Kishor S. Trivedi 氏(日本電気株式会社,
 Duke University, Duke University)
 (2015年度 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 論文賞)
14:05-14:10 閉会挨拶(Vice Chair:福本聡)

IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Seminar (終了しました。セミナーの様子

日時:2016年6月18日(土) 
会場:早稲田大学 早稲田キャンパス 11号館 8階 819教室 (http://www.waseda.jp/top/access/waseda-campus)
 キャンパスマップ 
主催:IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 
参加費:無料

プログラム
14:25-14:30 開会挨拶(Chair:早川有)

14:30-15:10 
講師:矢野 弓之介 氏(元(株)富士通コンピュータテクノロジ社 社長)
題目:ディペンダビリティ用語の標準化
概要:はじめに信頼性、ディペンダビリティ用語に関するIECおよびJISの規格
 化についての経緯を述べ、次にそれらの規格の概要を述べる。続いて重要基本
 用語として「dependability」、「failure」、「fault」のIEC、
 JISにおける定義、JISディペンダビリティ用語改正のための定義案につい
 て述べ、最後に国内外における規格化の状況について述べる。

15:10-15:50 
講師:岩田 浩司 氏(鉄道総合技術研究所 主任研究員(上級))
題目:鉄道信号装置の安全性確保の考え方と目標アベイラビリティ達成のため
 の対策決定法
概要:鉄道信号装置には高いレベルの安全性に加えて,高いアベイラビリティ
 も要求される.この鉄道信号装置の安全性確保の基本的な考え方について述べ
 る.また,線区の障害発生頻度と障害発生後の影響を総合的に考慮して適用対
 策を戦略的に決定できる,目標アベイラビリティ達成のための効果的な対策の
 決定法を紹介する.

15:50-15:55 閉会挨拶(Vice-Chair:福本聡)



2015年

IEEE Reliability Society Japan Chapter Annual Meeting & 2014年度 Chapter Awards受賞記念講演会講演会の様子


日時:2015年6月20日(土) 
会場:早稲田大学 早稲田キャンパス 11号館 7階 705教室 (http://www.waseda.jp/top/access/waseda-campus)
 キャンパスマップ 
主催:IEEE Reliability Society Japan Chapter 
参加費:無料

プログラム
13:00-13:05 開会挨拶(Chair:早川有)
13:05-13:20 授賞式・記念撮影
13:20-13:50 Nonparametric Maximum Likelihood Estimation of NHPP-based Software Reliability Model  
 齋藤靖洋 氏(広島大学大学院)(2014年度 IEEE Reliability Society Japan Chapter 学術奨励賞)
13:50-14:20 Optimal Replacement Last with Continuous and Discrete Policies  
 Xufeng Zhao 氏・中川覃夫 氏・Ming J. Zuo 氏(Qatar University・愛知工業大学・University of Alberta)(2014年度 IEEE Reliability Society Japan Chapter 論文賞)
14:20-14:25 閉会挨拶(Vice Chair:福本聡)

IEEE Reliability Society Japan Chapter Seminarセミナーの様子

日時:2015年6月20日(土) 
会場:早稲田大学 早稲田キャンパス 11号館 7階 705教室 (http://www.waseda.jp/top/access/waseda-campus)
 キャンパスマップ 
主催:IEEE Reliability Society Japan Chapter 
参加費:無料

プログラム
14:40-14:45 開会挨拶(Chair:早川有)
14:45-15:25 ディペンダビリティ用語の標準化
 矢野 弓之介 氏(元(株)富士通コンピュータテクノロジ 社長)
 講師都合により中止となりました.
15:25-16:05 位相型分布の信頼性モデルへの応用
 岡村 寛之 氏 (広島大学大学院 工学研究科 准教授)
16:05-16:10 閉会挨拶(Vice Chair:福本聡)

2014年

IEEE Reliability Society Japan Chapter Annual Meeting & 2013年度 Chapter Awards受賞記念講演会講演会の様子

日時:2014年6月14日(土) 
会場:日本大学 経済学部(JR水道橋駅)本館2階 中会議室2
 (http://www.eco.nihon-u.ac.jp/about/maps/) 
主催:IEEE Reliability Society Japan Chapter 
参加費:無料

プログラム
13:00-13:05 開会挨拶(Chair:木村光宏)
13:05-13:15 授賞式・記念撮影
13:15-13:55 Lifetime Distribution Analysis of Stress-Induced Voiding Based on Void Nucleation and Growth in Cu/Low-κ Interconnects
 横川 慎二 氏(職業能力開発総合大学校)・土屋 秀昭 氏(ルネサス エレクトロニクス(株))
 (2013年度 IEEE Reliability Society Japan Chapter 論文賞)
13:55-14:00 閉会挨拶(Vice Chair:早川有)

IEEE Reliability Society Japan Chapter Seminarセミナーの様子

日時:2014年6月14日(土)
会場:日本大学 経済学部(JR水道橋駅)本館2階 中会議室2
 (http://www.eco.nihon-u.ac.jp/about/maps/) 
主催:IEEE Reliability Society Japan Chapter 
参加費:無料

プログラム
14:05-14:10 開会挨拶(Chair:木村光宏)
14:10-15:10 個人ビッグデータの持続可能な利活用 — 時を越えた価値を求めて — 
      Sustainable Use of Personal Big Data: Pursuit of Timeless Value
 金 群 氏(早稲田大学 人間科学学術院 教授)
15:10-16:10 フィールドでのデバイス信頼性とモニタリング技術
 佐藤 康夫 氏 (九州工業大学 客員教授)
16:10-16:15 閉会挨拶(Vice-Chair:早川有)

2013年

IEEE Reliability Society Japan Chapter Annual Meeting & 2012年度 Chapter Awards受賞記念講演会 (講演会の様子)

日時:2013年6月15日(土) 
会場:中央大学 後楽園キャンパス 6号館 7階 6701室
 (http://www.chuo-u.ac.jp/chuo-u/access/index_j.html) 
主催:IEEE Reliability Society Japan Chapter 
参加費:無料

プログラム
12:40-12:45 開会挨拶(Chair:木村光宏)
12:45-13:00 授賞式
13:00-13:25 ユーザのリアルタイムな稼働情報に基づく寿命分布推定の一手法
 横山 真弘 氏(電気通信大学大学院)
 (2012年度 IEEE Reliability Society Japan Chapter 学術奨励賞)
13:25-13:55 The Extended Cumulative Exposure Model (ECEM) and Its Application to Oil Insulation Tests
 廣瀬 英雄 氏・作村 建紀 氏(九州工業大学)
 (2012年度 IEEE Reliability Society Japan Chapter 論文賞)
13:55-14:00 閉会挨拶(Vice Chair:早川有)


IEEE Reliability Society Japan Chapter Seminar (セミナーの様子)

日時:2013年6月15日(土)
会場:中央大学 後楽園キャンパス 6号館 7階 6701室
 (http://www.chuo-u.ac.jp/chuo-u/access/index_j.html) 
主催:IEEE Reliability Society Japan Chapter 
参加費:無料

プログラム
14:15-14:20 開会挨拶(Chair:木村光宏)
14:20-15:20 超小型衛星とほどよし信頼性工学(概要)
 佐原 宏典 氏(首都大学東京 システムデザイン学部 航空宇宙システム工学コース 教授)
15:20-15:25 休憩
15:25-16:25 Formal Engineering Methods for Software Quality Assurance(abstract)
 劉 少英(Liu, Shao Ying) 氏(法政大学 情報科学部 コンピュータ科学科 教授)
16:25-16:30 休憩
16:30-17:30 Technology Trends of Dependability in the Recent Decade(概要)
 金川 信康 氏(日立製作所 日立研究所 主管研究員)
17:30-17:35 閉会挨拶(Vice-Chair:早川有)
18:00-20:00 キャンパス近隣にて懇親会を予定(会費制)

2012年

IEEE Reliability Society Japan Chapter Annual Meeting & 2011年度 Chapter Awards受賞記念講演会

日時:2012年6月16日(土) 10:00-12:10
会場:首都大学東京 秋葉原サテライトキャンパス
 (http://www.tmu.ac.jp/university/campus_guide/access.html)
主催:IEEE Reliability Society Japan Chapter 
参加費:無料

プログラム 
 10:00-10:05 開会挨拶(Chair:土肥正) 
 10:05-10:20 授賞式
 10:20-10:45 拡張蓄積疲労モデル
 作村建紀 氏(九州工業大学大学院)
 (2011年度 IEEE Reliability Society Japan Chapter 学術奨励賞) 
 10:45-11:10 Estimating Software Failure Rate by a Daubechies Wavelet Estimator
 肖霄 氏(広島大学大学院)
 (2011年度 IEEE Reliability Society Japan Chapter 学術奨励賞)
 11:10-11:35 信頼・保全性研究雑感
 中川覃夫 氏(愛知工業大学)
 (2011年度 IEEE Reliability Society Japan Chapter 技術功績賞)
 11:35-12:05 Codesign-Oriented Performability Modeling for Hardware-Software Systems
 得能貢一 氏・山田茂 氏(鳥取大学)
 (2011年度 IEEE Reliability Society Japan Chapter 論文賞)
 12:05-12:10 閉会挨拶(Vice Chair:木村光宏)

IEEE Reliability Society Japan Chapter Seminar (セミナーの様子)

日時:2012年6月16日(土) 13:30-17:25 
会場:首都大学東京 秋葉原サテライトキャンパス
 (http://www.tmu.ac.jp/university/campus_guide/access.html)
主催:IEEE Reliability Society Japan Chapter 
参加費:無料

プログラム
13:30-13:35 開会挨拶(Chair:土肥正)
13:35-14:05 VLSIのテストと市場不良率
 岩崎一彦 氏(首都大学東京 システムデザイン学部 教授)
14:05-15:05 宇宙システムの信頼性向上策
 武内信雄 氏(JAXA 技術参与・信頼性統括)
15:05-15:20 休憩
15:20-16:20 多状態システムの順序構造と応用
 大鑄史男 氏(名古屋工業大学 大学院工学研究科 教授)
16:20-17:20 Interactive Verification of Low-level Programs using the Coq Proof-assistant
 Reynald Affeldt 氏(産業技術総合研究所 研究員)
17:20-17:25 閉会挨拶(Vice-Chair:木村光宏)
18:00-20:00 懇親会(会費制)

2011年

IEEE Reliability Society Japan Chapter Annual Meeting & 2010年度 Chapter Awards受賞記念講演会

日時:2011年6月11日(土) 10:00-12:35 
会場:首都大学東京 秋葉原サテライトキャンパス
 (http://www.jspe.or.jp/iinkai/prost/data/satellite.pdf)
主催:IEEE Reliability Society Japan Chapter 
参加費:無料

プログラム 
 10:00-10:05 開会挨拶(Chair:土肥正) 
 10:05-10:20 授賞式
 10:20-10:45 Optimal Checkpoint Density for Hybrid State Saving
 大原 衛 氏 (東京都立産業技術研究センター)
 (2010年度 IEEE Reliability Society Japan Chapter 学術奨励賞) 
 10:45-11:10 Optimal Maintenance Policy with an Interval of Duplex System
 水谷聡志 氏 (愛知工科大学)
 (2010年度 IEEE Reliability Society Japan Chapter 学術奨励賞)
 11:10-11:35 高信頼放送用送信装置の開発・実用化
 生岩量久 氏 (広島市立大学)
 (2010年度 IEEE Reliability Society Japan Chapter 技術功績賞)
 11:35-12:00 信頼性活動について
 尾崎俊治 氏 (南山大学)
 (2010年度 IEEE Reliability Society Japan Chapter 技術功績賞)
 12:00-12:30 Optimum Specimen Sizes and Sample Allocation for Two Competing Failure Modes
 鈴木和幸 氏 (電気通信大学)
 (2010年度 IEEE Reliability Society Japan Chapter 論文賞)
 12:30-12:35 閉会挨拶(Vice Chair:木村光宏)

IEEE Reliability Society Japan Chapter Seminar

日時:2011年6月11日(土) 14:00-17:10
会場:首都大学東京 秋葉原サテライトキャンパス
 (http://www.jspe.or.jp/iinkai/prost/data/satellite.pdf)
主催:IEEE Reliability Society Japan Chapter 
参加費:無料

プログラム
14:00-14:05 開会挨拶(Chair:土肥正)
14:05-15:05 より信頼できる指標に基づくシステム性能の最適化
 恐神貴行 氏
 (日本IBM(株)東京基礎研究所 主任研究員)
15:05-16:05 ソフトウェア開発・テストにおいて信頼性達成に必要な原理・原則はあるのか
 松尾谷徹 氏
 (有限会社デバッグ工学研究所 代表)
16:05-17:05 信頼性・安全性の確保とトラブル未然防止
 鈴木和幸 氏
 (電気通信大学 情報理工学部 教授)
17:05-17:10 閉会挨拶(Vice Chair:木村光宏)

2010年

IEEE-RS Chapter Annual Meeting & 2009年度 Chapter Awards受賞記念講演会

日時:2010年9月18日(土) 15:00-17:00 
会場:日本大学 経済学部 7号館13階 会議室3
 (http://www.eco.nihon-u.ac.jp/accessmap/)
主催:IEEE Reliability Society Japan Chapter 
参加費:無料

プログラム 
 15:00-15:10 Chair挨拶 
 15:10-15:25 授賞式
 15:25-15:55 看護における違反事例の収集と心理的要因の関わり
 安達悠子 氏
 (2009年度 IEEE Reliability Society Japan Chapter学術奨励賞) 
 15:55-16:25 フェールセーフなリモートI/Oの構成方法
 安澤卓也 氏
 (2009年度 IEEE Reliability Society Japan Chapter学術奨励賞)
 16:25-16:55 Lifetime Estimation Using Only Failure Information From Warranty Database
 M. Mesbahul Alam and Kazuyuki Suzuki
 (2009年度 IEEE Reliability Society Japan Chapter論文賞)
 16:55-17:00 閉会挨拶
 

2009年

IEEE Japan-Taiwan Reliability Workshop

日時:2009年6月20日(土) 10:00-12:00 
会場:日本大学 経済学部 7号館13階 会議室3
 (http://www.eco.nihon-u.ac.jp/accessmap/)
主催:IEEE Reliability Society Japan Chapter 
参加費:無料 ※IEEE会員以外の方もご参加いただけます。 

Date: June 20, 2009 (10:00 to 12:00) 
Venue: Conference Room 3, 13rd Floor, Building 7, College of Economics, Nihon University 
 (3 minutes walk from Suidobashi Sta. of JR, Sobu line)
 http://www.eco.nihon-u.ac.jp/english/accessmap/ 
Official Language: English 
Host: IEEE Reliability Society Japan Chapter 
Registration Fee: Free (We welcome non IEEE member.) 

Schedule:
 10:00-10:20 Opening
 10:20-11:00 "Optimal Random Maintenance Policies"
 Prof. Mingchih Chen (Chaoyang University of Technology)
 11:00-11:40 "Partition Number, Redundant Number and Golden Ratio in Reliability"
 Prof. Toshio Nakagawa (Aichi Institute of Technology)
 11:40-12:00 Closure

IEEE-RS Chapter Annual Meeting & 2008年度 Chapter Awards受賞記念講演会

日時:2009年6月20日(土) 14:00-16:30 
会場:日本大学 経済学部 7号館13階 会議室3
 (http://www.eco.nihon-u.ac.jp/accessmap/)
主催:IEEE Reliability Society Japan Chapter 
参加費:無料

プログラム 
 14:00-14:15 Chair挨拶および2008 Chapter Awards 授賞式 
 14:15-14:45 Safety Achieved by the Safe Failure Fraction (SFF) in IEC61508
 Itaru Yoshimura and Yoshinobu Sato (Tokyo University of Marine Science and Technology)
 (2008年度IEEE Reliability Society Japan Chapter論文賞) 
 14:45-15:15 光結合フェールセーフ論理回路を用いた安全デバイスの提案
 工藤大地 ((株)日本信号) (2008年度IEEE Reliability Society Japan Chapter学術奨励賞)
 15:15-15:25 休憩
 15:25-15:55 空港における保安技術の研究開発動向 ?核四重極共鳴を用いた爆薬検知?
 近内亜紀子 (海上技術安全研究所) (2008年度IEEE Reliability Society Japan Chapter学術奨励賞)
 15:55-16:25 3パラメータワイブル分布, 3パラメータガンマ分布における一致推定量の構成
 長塚豪己 (首都大学東京) (2008年度IEEE Reliability Society Japan Chapter学術奨励賞)
 16:25-16:30 閉会挨拶 

2008年

 

IEEE-RS Chapter Annual Meeting & 2007年度 Capter Awards受賞記念講演会

日時 平成20年7月26日(土) 14:00-16:30
会場:日本工業大学 神田キャンパス 501号室
 http://mot.nit.ac.jp/access.html
参加費 無料 
 資料準備の都合上,ご出席いただけます方は7月18日までに
    secretary (防衛大学校 弓削哲史, yuge@nda.ac.jp, FAX:046-844-5903)まで
   ご連絡下さいますようお願い申し上げます.

プログラム 

授賞式 14:00 Chair挨拶および2007 Chapter Awards 授賞式 
記念講演会 14:10 オープンソースソフトウェアに対する信頼性評価のための確率微分方程式モデルとその応用
 田村慶信(広島工業大学)(2007年度学術奨励賞)  
 14:50 LSIの微細Cu配線におけるエレクトロマイグレーション信頼性
                           横川慎二(NECエレクトロニクス)(2007年度論文賞) 
    15:30 信頼性のフロンティア ??サービスから環境まで??
     益田昭彦(帝京科学大学)(2007年度信頼性技術功績賞)
 16:10 閉会挨拶

2007年

 

IEEE Japan-Korea Reliability Workshop

 
日時:2007年11月17日(土) 13:30?17:00 


会場:日本工業大学 神田キャンパス 502号室
 http://mot.nit.ac.jp/access.html

主催:IEEE R Japan Chapter 

参加費:無料 ※IEEE会員以外の方もご参加いただけます。 


Date: November 17, 2007 (13:30 to 17:00) 

Venue: Room 502, Kanda Campus, Nippon Institute of Technology 
 http://mot.nit.ac.jp/english/submenu/access.html 
 (2 minutes walk from Jimbo-cho Sta. of Tokyo metro, Hanzomon line) 

Official Language: English 

Host:IEEE R Japan Chapter 

Registration Fee: Free(We welcome non IEEE member.) 

Schedule:
1330-1335 Opening  
1335-1415 "Evolutionary Design of N-version Program"

Prof. Yasuhiro Tsujimura
(Nippon Institute of Technology)

1415-1455 "On a Random Failure Rate Model" Prof. Ji Hwan Cha
(Pukyong National University)
1455-1510 Break  
1510-1550 "Reliability evaluation method of systems with permissible repair time and imperfect switchover" Prof. Hitoshi Watanabe
(Tokyo University of Science)
1550-1630 Optimization issues in multi-unit systems" Prof. Won Young Yun
(Pusan National University)
1630- Closure  

 

IEEE-RS Chapter Annual Meeting & 2006年度 Capter Awards受賞記念講演会

日時 平成19年7月28日(土) 13:00-16:30
場所 電気通信大学 西5号館 314号室
 http://www.uec.ac.jp/acc/map.html#campus 
 (〒182-8585 東京都調布市調布ヶ丘1-5-1)
参加費 無料 
 資料準備の都合上,ご出席いただけます方は7月20日までに
    secretary (防衛大学校 弓削哲史, yuge@nda.ac.jp, FAX:046-844-5903)まで
   ご連絡下さいますようお願い申し上げます.

プログラム 

授賞式 13:00 Chair挨拶および2006 Chapter Awards 授賞式 (柳 繁、鈴木和幸) 
記念講演会 13:10 日中信頼性技術交流(挨拶) 額田啓三,(2006年度信頼性技術功績賞)  
 13:25 LSI故障解析技術     
 二川清(NECエレクトロニクス),(2006年度信頼性技術功績賞)
    14:05 ドライバ適応的衝突警報の提示タイミングと信頼 
 安部原也(日本自動車研究所),(2006年度学術奨励賞)
 14:45 休憩
 15:00 離散ワイブル型故障発生時間分布に基づいたソフトウェア信頼性モデル 
 井上真二(鳥取大学),(2006年度学術奨励賞)
 15:40 Optimality of Monotone Procedure in Preventive Maintenance 
     Lu JIN(電気通信大学),(2006年度論文賞) 
 16:20 総合討論(chapter活動方針についての議論を含む)

2006年

行事名:リスク工学研究会
目的:自動車の運転支援システムの最近の開発動向について、レーンキ ープサポートならびにプリクラッシュセーフティを例にご紹介いただき、 信頼性や安全性をさらに向上させるための今後の課題などについて聴衆 と議論する。
参加費: 無料
主催団体:筑波大学システム情報工学研究科リスク工学専攻
共催団体:IEEE Reliability Society Japan Chapter
開催日時:平成18年11月1日(水) 14:00-17:00
開催場所: 筑波大学東京キャンパス(秋葉原ダイビル)第3教室
http://www.tsukuba.ac.jp/navi/img/tokyo-campus_b.gif

講演会の構成
14:00-14:10 開会の挨拶
14:10-15:10 本田技研様 レーンキープサポートの紹介(仮)
15:10-15:30 休憩
15:30-16:30 日野自動車様 大型トラックのプリクラッシュセーフティ
16:30-17:00 全体ディスカッション

2005年

  1. 信頼性におけるHuman Factorに関する講演会 (主催: IEEE Reliability Society Japan Chapter)
    年月日: 2005年10月22日(土) 14:00-17:00
    会場: 電気通信大学 総合研究棟301号室  >>大学までのアクセス構内地図
    講師: 中條武志先生(中央大学),田中健次先生(電気通信大学)
    参加を希望される方は、10月19日までに電子メール(宛先:shimi@se.uec.ac.jp)にてご連絡下さい。

    中條武志
    中央大学 教授

    題目:医療におけるエラープルーフ化?系統的にエラープルーフ化を進めるための3 フェーズと支援ツール?

    要旨:
    医療において、人的エラーは質・安全・能率に大きな影響を与える。これらを防止するために多くのエラープルーフ化の対策が行われ、成功を収めているが、そ のほとんどは既存のノウハウをうまく活用することなく、個別に考案されている。本発表では、医療においてエラープルーフ化を系統的に進めるための一つの方 法を提案する。この方法は、(1) 改善の機会を発見する、(2) 対策案を生成する、(3) 対策案を評価・選定する、という3つのフェーズから構成される。第1フェーズでは、HFMEAを基本とし、その実施を容易にするツールとして一般化サブプ ロセス、一般化失敗モードを用いる。第2フェーズでは、多くのエラープルーフ化の事例の背後に共通する発想法を抽出して、チェックリスト化・データベース 化することで対策案の生成を促進する。第3フェーズでは、生成された対策案をSolution Priority Numberを用いて重要度付けする。提案する方法を実際のプロジェクトに適用した例についても報告する。

    田中健次
    電通大 教授

    題目:人間に依存する冗長化の落とし穴?効果的な冗長化はいかに実現できるか
    要旨:高信頼性・安全性を確保する上で、冗長並列化は有効な設計手法である。しかし、人間に一部を頼る現実の冗長系では、並列モデルでの信頼度計算のような効果は期待できない。様々な落とし穴がそこにあるからである。
    前半では、人間作業による多重防護、例えば、Wチェックによる確認作業などでは、作業者間の独立性が成り立たないばかりか、さらにその効果を低下させる他の要因があることを指摘する。後半では、人間操作と自動化の多重化による安全確保の問題点、 フールプルーフ設計への過信がもたらす落とし穴などを考える。

  2. 第35回信頼性・保全性シンポジウム (主催: 日本科学技術連盟)(IEEE Reliability Society Japan Chapter 協賛)

    年月日/会場: 2005年6月8,9日 日本科学未来館
  3. 日本信頼性学会第13回春季信頼性シンポジウム(主催:日本信頼性学会)(IEEE Reliability Society Japan Chapter 協賛)

    年月日/会場:2005年5月23日 日本科学技術連盟東高円寺ビル(東京)
  4. 日本信頼性学会フォーラム(IEEE Reliability Society Japan Chapter 協賛)

    「生活インフラと耐震安全性?大地震から暮らしを守る技術?」(主催:日本信頼性学会)
    年月日/会場:2005年4月23日 明治大学(御茶ノ水)
  5. 電気通信大学大学院情報システム学研究科シンポジウム 第9回「信頼性とシステム安全学」(主催:電気通信大学大学院情報システム学研究科)(IEEE Reliability Society Japan Chapter 協賛)

    年月日/会場:2005年3月1日 電気通信大学(調布市)
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