IEEE Reliability Society Japan Chapter

IEEE Asian Reliability Conference 2005参加申込

（更新年月日：2005年10月23日）

IEEE Asian Reliability Conference 2005への参加を希望される方は，以下の文面を
ktadacc.tmit.ac.jp
もしくは
（FAX）042-583-5119
にて多田宛に 11/15までにお送り下さい．

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ARC 2005 (IEEE Asian Reliability Conference 2005)　参加申込書

ご氏名（和文）：
ご氏名（英文）：
  敬称(いずれかを残して下さい)： Mr.   Ms.   Dr.  Prof.
ご所属（和文）：
ご所属（英文）：
ご連絡先(e-mail かfaxを 必ずご記入下さい)
 e-mail:
 fax   :
 phone :

なお、ご参加される方は当日は名刺を２枚お持ち下さい。

参加される方を残して下さい。費用は当日徴収致します。
（１）全日（午前と午後のチュートリアルに参加、情報交換会を含む）
       　登録費用  １５，０００円
（２）午後のみ（チュートリアルに参加、情報交換会を含む）　
         登録費用　１０,０００円
（２）学生（学生証をお持ち下さい）　
         登録費用　　５,０００円

今回は並行して３セッションが開催されます。
会場の都合もあり、以下の点を事前にご教示下さい。

午前・午後の参加は主にどのセッションに参加されますか？
　　　（午前中のセッション間の移動は自由です）

午前(参加するSessionを残して下さい）
(1) Session A: Principles of Reliability
(2) Session B: Reliability of Human and Complex Systems
(3) Session C: Reliability Modeling

午後(参加するTutorialを残して下さい）
(1) Tutorial A: Jeffrey Voas (Dynamic Software Testing)
(2) Tutorial B: Sam Keene (Six Sigma)
(3) Tutorial C: Richard Doyle (Thermal Analysis of Electronic Systems and
                               Parts)
(4) Tutorial D: Bret Michael (Software-Based Safety Kernels for Hybrid Systems)
            and John Viega   (Common Misconceptions about Cryptography)

情報交換会　（登録費用に含まれています。希望される方を残して下さい）
  参加　不参加　

              (ktada@cc.tmit.ac.jpもしくは(FAX)042-583-5119にて多田宛に11/15までにお送り下さい)
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