IEEE
Japan Council会員各位
IEEE Electron
Devices Society
Chair 黒部 篤
Vice Chair 小柳 光正
IEEE EDS Japan Chapter主催の下記講演会を 7月広島にて開催致します。多くの皆様にご参加頂けますようご案内申し上げます。
*** IEEE EDS Japan Chapter 講演会 ***
テーマ：『半導体デバイスばらつき制御の可能性』
副 題： ばらつきをいかにモデル化するか？
日 時： 2007年7月12日（木）13:00 - 17:10
場 所： 広島大学 学士会館 レセプションホール（収容人員１５０名）
http://www.hiroshima-u.ac.jp/add_html/access/ja/saijyo2.html
（東広島キャンパス バス停「広大中央口」周辺マップ参照）
主 催： IEEE EDS Japan Chapter
参加無料
事前登録は必要ございません。
IEEE非会員の方もご参加頂けます。
内容：（発表30分、質疑5分)
13:00〜13:05 開会の辞
13:05〜13:40 「ＤＬ講演：集積回路ばらつきの解析・予測に向けたデバイスモデリングの状況」
三浦道子 （広島大学）
＜デバイス開発の立場から＞
13:40〜14:15 「微細 MOSFET におけるランダム・テレグラフ・シグナルの統計的ばらつきのモデリング」
園田賢一郎 ((株)ルネサステクノロジ)
14:15〜14:50 「電子トラップ起因の近藤効果による、バリスティック伝導の電流ばらつき」
棚本哲史 （(株)東芝）
14:50〜15:20 休憩
15:20〜15:55 「ＴＣＡＤを用いたデバイス最適化手法」
福田 浩一 （沖電気工業(株)）
＜回路設計の立場から＞
15:55〜16:30 「回路を用いたデバイスばらつきの抽出」
Mattausch, Hans Juergen （広島大学）
16:30〜17:05 「”ばらつき”とコンピュータ・シミュレーション、ＥＤＡプラットフォーム」
飯野由久 ((株)シルバコ・ジャパン)
17:05〜17:10 閉会の辞
【本件に関する連絡・問合せ先】
IEEE EDS Japan Chapter Secretary 百瀬 寿代
(株)東芝 半導体研究開発センター
〒235-8522 横浜市磯子区新杉田町8
phone:
045-770-3644
fax: 045-770-3571
email: hisayo.momose@toshiba.co.jp
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