2010年 第２回技術講演会 テスト生成アルゴリズム半世紀の歩み

藤原秀雄先生を講師にお招きして講演会を開催しました．

日時

2010年12月21日（火） 15:00–16:30

会場

メルパルク京都 ５階 会議室Ｂ

600-8216 京都府 京都市 下京区東塩小路町６７６ー１３

15:00–16:30 テスト生成アルゴリズム半世紀の歩み

概要

R. D. Eldredがテスト生成に関する世界で最初の論文を1959年のJournal of ACMに発表してからちょうど半世紀が過ぎました．その間，数多くの優れたテスト生成アルゴリズムが研究開発され，今日の半導体産業を支える多くの優れたATPGツールに至っています．本講演では，テスト生成アルゴリズムの歴史を振り返り，個性豊かな アルゴリズムが次々と研究開発されて来た半世紀の歩みを紹介します．また，それらの活発な研究の起爆剤となったベンチマークの歴史についても紹介します．

講演者

藤原（ふじわら） 秀雄（ひでお） （奈良先端科学技術大学院大学）

略歴

昭44年 大阪大学 工学部 電子工学科卒業，昭49年 同大 大学院博士課程を修了，工学博士．大阪大学工学部助手，明治大学工学部助教授，理工学部教授を経て，現在，奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科 教授． 昭56年ウォータールー大客員助教授，昭59年マッギル大客員准教授，平成10年～12年奈良先端科学技術大学院大学 評議員を併任．論理設計論，フォールトトレランス，設計自動化，テスト容易化設計，テスト生成，並列処理，計算複雑度に関する研究に従事．著書は「Logic Testing and Design for Testability」（MIT Press）など．大川出版賞，IEEE Computer Society Outstanding Contribution Award, IEEE Computer Society Meritorious Service Awardなどを受賞．電子情報通信学会フェロー，情報処理学会フェロー，IEEE Computer Society Golden Core Member，IEEE Fellow．

ギャラリー

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