IEEE Reliability Society Japan Chapter

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Chapter Award Winner 2010

（更新年月日：2011年11月2日）

当Chapter では，IEEE Reliability Society Japan Chapter Awards 制度を創設し，2003年から運用，2008年度からAwardsの名称が変更されております．
2010年度Awardの受賞者はつぎの方々です．

(1) IEEE Reliability Society Japan Chapter 論文賞　1件

Kazuyuki Suzuki, Toshie Nakamoto, and Yohtaro Matsuo
対象論文 "Optimum Specimen Sizes and Sample Allocation for Two Competing Failure Modes"
　　Technometrics, Vol.52, No.2, 2010
(2) IEEE Reliability Society Japan Chapter 学術奨励賞　2件

大原　衛 氏
対象講演 "Optimal Checkpoint Density for Hybrid State Saving"
　　4th Asia-Pacific International Symposium
　　on Advanced Reliability and Maintenance Modeling, 2010年12月2-4日

水谷聡志 氏
対象講演 "Optimal Maintenance Policy with an Interval of Duplex System"
　　4th Asia-Pacific International Symposium
　　on Advanced Reliability and Maintenance Modeling, 2010年12月2-4日
(3) IEEE Reliability Society Japan Chapter 信頼性技術功績賞　2件

生岩量久 氏
開発課題名 "高信頼放送用送信装置の開発・実用化・普及に対する功績"

尾崎俊治 氏
開発課題名 "システム信頼性評価のための確率的モデル化技術に関する功績"

授賞式の様子

授賞式は2011年6月11日(土)首都大学東京秋葉原サテライトキャンパスにおいて執り行いました。

（いずれの写真も写真中央が受賞者， 右側がChairの土肥正教授，左側がVice Chairの木村光宏教授）

【IEEE Reliability Society Japan Chapter論文賞】
　　
　　　　鈴木和幸 氏（写真中央）


【IEEE Reliability Society Japan Chapter学術奨励賞】
　　
　　　　大原　衛 氏（写真中央）

　　
　　　　水谷聡志 氏（写真中央）

【IEEE Reliability Society Japan Chapter信頼性技術功績賞】
　　
　　　　生岩量久 氏（写真中央）

　　
　　　　尾崎俊治 氏（写真中央）

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