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IEEE広島支部ではIEEE広島支部共催の特別講演会を開催致します．多くの皆様のご参加をお願い致します．
- 開催日時：2009年4月24日(金)16:00-16:40
- 会場：岡山大学大学院自然科学研究科棟2階大講義室
- 講演者：古賀隆治(岡山大学教授)
- 講演題目：電子装置におけるEMC課題の回顧とEMIモデルへの期待
- 概要：この講演は，筆者が研究の手段として一貫して行った，「モデル作り」の経験 を述べたものである．
まず動力用原子炉の出力制御を行うために，複雑で制御対象としては向かない 拡散方程式を簡単化し，「積雲モデル」を考案した．これは原子炉を長期間運転 するとき，核燃料をできるだけたくさん燃やし尽くし，経済性を追求する問題に 用いられた．次は，ディジタル電子装置の内部電磁界の分布を記述するモデルと して，拡散方程式を借用した．さらに，ディジタル電子装置からの放射電磁雑音 は，[雑音源の起電力]×[伝搬経路の伝達効率]×[アンテナ構造の効率]なる積の さらに和で表される，というモデルを考え，それぞれの因子を見積もる方法をい ろいろと考えた．これらは，厳密性を欠くが，実験で逐一確かめることにより信 頼性を確保してきた．さらに，今後の課題として，筐体に納められた電子装置の モデルについての簡単な構想を述べる．
- 開催日時：2009年4月24日(金)16:40-17:20
- 会場：岡山大学大学院自然科学研究科棟2階大講義室
- 講演者：岩田 穆(広島大学教授)
- 講演題目：アナログ・デジタル混載システムにおけるクロストーク雑音の回路性能への影響とその対策
- 概要：高精度な雑音測定とシミュレーションモデルに基づいて，クロストーク雑音が
アナログ・デジタル混載システムの性能に与える影響について述べる．高精度，
広帯域な雑音測定のために等価サンプルの原理に基づく雑音検出システムをラッ
チコンパレータによるオンチップ雑音検出器と雑音源としての論理セルアレイに
よる雑音源により実現した．多数のテストチップの測定により，100uV,100psの
測定分解能を確認した．また，チップレベルの基板雑音のミュレーションのため
の，CMOS論理回路の充電シーケンスによる雑音生成モデルとシリコン基板メッシ
ュのノード数をFマトリクス演算で２桁削減する技術を開発した．チップ・ボー
ドレベルのA-D混載システムのシミュレーションを可能にし，雑音の影響を定量
的に評価した．シミュレーション結果は測定結果と10％程度の誤差で一致した．
さらにクロストークによる性能劣化を抑圧する技術についても述べる．
- 連絡先：豊田啓孝, 岡山大学工学部
Email:toyota&cne.okayama-u.ac.jp, (送信時に&を＠に換えてください）
Tel & Fax:086-251-8137/8136
参加料:無料
事前の参加申込:不要
(電子情報通信学会環境電磁工学研究会主催,IEEE広島支部共催)
- 特別講演会は以下のIEEE広島支部共催の研究会内で開催されます．
環境電磁工学研究会（EMCJ）（IEEE EMC Society Japan Chapter,IEEE広島支部共催 IEEE EMC Society Sendai Chapter協賛）
日時 2009年 4月24日(金) 13：00〜17：20
研究会プログラム詳細はこちら
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