IEEE Reliability Society Japan Chapter

Chapter Award Winner 2005

（更新年月日：2006年11月25日）

当Chapter では，IEEE Reliability Society Japan Chapter Awards 制度を創設し，2003年から運用しております．
第3回目の受賞者はつぎの方々です．

（１）論文賞　1件

廣瀬英雄氏　（九州工業大学　情報工学部　システム創成情報工学科） 対象論文：「The Trunsored Model and Its Applications to Lifetime Analysis: Unified Censored and Truncated Models」， IEEE Transactions on Reliability，Volume 54, Issue 1, pp.11-21, 2005

（２）学術奨励賞　2件

	田村信幸氏　（防衛大学校　電気情報学群　電気電子工学科） 対象講演：「不確実な修理と取り替えを考慮したマルコフ的劣化システムに関する一考察」， 電子情報通信学会信頼性研究会2005年6月24日，信学技報R2005-15
	Jin Lu氏　（電気通信大学　電気通信学研究科　電子情報学専攻） 対象講演：「Roles of Weak-MLR (Weak Multivariate Monotone Likelihood Ratio) in Preventive Maintenance and Its Relationship with Multivariate Analysis」， 電気通信大学情報システム学研究科シンポジウム第9回「信頼性とシステム安全学」2005年3月1日，予稿集pp.80−85

信頼性技術功績賞　0件

（該当者なし）

授賞式の様子

• 日時：　2006年2月28日（火）　12:30-12:40
• 会場：　電気通信大学　IS棟2F大会議室

（左から，廣瀬氏，田村氏，Jin氏）